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FORUM TEST AUTOMATIQUE ET VALIDATION

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Ces journées s'articuleront autour de conférences gratuites et d'une exposition de partenaires et d'intégrateurs.

Au programme tout au long de la journée :

La gestion et l’intégration de tests
Les meilleures pratiques pour un système PXI
La migration récente des instruments traditionnels automatisés vers l’instrumentation modulaire
L’acquisition et le stockage de volumes de données importants
La gestion de l’obsolescence
L’évolutivité des standards RF
La gestion de protocoles personnalisés
Le traitement de données embarquées sur FPGA
Le test HIL


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